国立大学法人 大分大学
発明名称:回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法
高精度回路診断テスト装置及び方法
診断対象回路のスキャンFF(フリップフロップ)に設定されたテストパターンに基づき、異なるクロック周期で生成された応答シグネチャと期待シグネチャを比較し、精密な回路診断を実現する装置および方法に関するものです。このシステムは、大容量の不揮発性メモリを必要とせずに、回路の故障箇所を高精度に特定できるという特徴を持っています。
特許取得国:
更新日:
価格 | 希望条件 | 登録番号 | 出願日 |
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ライセンス契約 | 特許第7195602 | 2019/02/19 |