国立大学法人豊橋技術科学大学
高精度化学・物理現象検出装置の制御方法
国立大学法人豊橋技術科学大学
高精度化学・物理現象検出装置の制御方法
本特許では、化学・物理現象検出装置の制御方法について詳述されています。前記複数のセンシング部の全てに前記ID部から電荷を注入した後、選択された第1のセンシング部の第1のポテンシャル井戸の電荷はホールドし、選択されない第2のセンシング部の第2のポテンシャル井戸の電荷を排出します。そして、前記第1及び前記第2のポテンシャル井戸から同時に一つの前記FD部へ電荷を移動可能状態とします。この制御方法により、化学・物理現象の検出精度を飛躍的に向上させることが可能となります。また、電荷の最低電位を一定として、電荷の注入制御を行うことにより、センシング精度を一層向上させることができます。
つまりは、電荷注入と移送による化学・物理現象の高精度検出
AIによる特許活用案
おすすめ業界 化学産業製薬業半導体産業
- 高精度センサーの開発
- 化学・物理現象の研究
- 工業製品の品質管理
本特許の技術を活用し、化学・物理現象の高精度検出が可能なセンサーを開発することが可能です。これにより、従来よりも高い精度で各種の現象を検出し、分析することができます。
本特許の技術を用いることで、化学・物理現象の研究における精度向上が期待できます。これにより、より詳細なデータ分析が可能となり、新たな発見や理論構築に対する貢献が期待できます。
高精度な化学・物理現象の検出能力を持つ本特許の技術は、工業製品の品質管理においても活用可能です。製品の製造過程における微細な化学・物理的変化を検出し、品質の向上に貢献することができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2013-523996 |
| 発明の名称 | 化学・物理現象検出方法及びその装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 |
| 公開番号 | WO2013/008908 |
| 登録番号 | 特許第0006074770号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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