国立研究開発法人産業技術総合研究所
革新的な有機TFTアレイの検査装置とその方法
国立研究開発法人産業技術総合研究所
革新的な有機TFTアレイの検査装置とその方法
本特許の検査装置は、有機TFTエアレイを光学的に撮像し、ソースとドレインを短絡させて所定周期で電圧をオン・オフさせる機能を持つ。また、単色光を照射し、電圧印加前後の撮像を同期させる撮像装置、その画像データから差分イメージを得る画像解析装置も含む。さらに、画像解析装置は差イメージの積算処理と、各有機TFTの個体差の検査、応答速度差の検査が可能。特に画像解析装置は、各有機TFTの応答速度差を検査するために、電圧のオン・オフとそれぞれの所定時間経過後に撮像を開始する機能も持つ。
つまりは、本特許は、有機半導体薄膜トランジスタ（TFT）アレイの検査装置とその方法に関するもので、アレイ中の欠陥や各TFT素子の出力特性、応答速度のばらつきを検出・評価することが可能です。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 エレクトロニクス半導体ディスプレイ技術
- 高品質のディスプレイ製造
- ディスプレイのリペア・メンテナンス
- 半導体教育・研究
本特許技術を活用することで、有機TFTエアレイの断線や欠陥、出力特性や応答速度のばらつきを検出・評価することで、ディスプレイ製造工程での品質管理を強化できます。これにより、高品質なディスプレイの製造が可能となります。
本特許技術をディスプレイのリペアやメンテナンスに活用することで、具体的な欠陥の位置や性質を特定し、効率的な修理やメンテナンスを可能にします。また、各TFT素子の応答速度差を検査することで、早期の寿命予測や劣化予防も期待できます。
本特許技術は、半導体やディスプレイ技術に関する教育や研究においても有用です。特に、有機TFTの特性や欠陥の発生メカニズムの理解、新たな改善策の開発に役立てることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-542585 |
| 発明の名称 | 有機ＴＦＴアレイ検査装置及びその方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | WO2016/024585 |
| 登録番号 | 特許第0006238389号 |
- サブスク
- 譲渡
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