国立研究開発法人科学技術振興機構
高精度な光の分析を実現する多焦点分光計測装置

国立研究開発法人科学技術振興機構
高精度な光の分析を実現する多焦点分光計測装置
本発明の多焦点分光計測装置は、複数の対物集光部と分光器側集光部を備えます。これにより、試料配置部に配置された試料から発せられる信号光を分光器に導入し、光の成分を分析することが可能となります。また、試料と対物集光部の相対的な位置を移動させることも可能で、より詳細な光の分析が可能です。複数の対物集光部とそれに対応する分光器側集光部間の光が平行光線になるように配置されているため、高精度な分光計測が可能となります。これにより、試料の性質をより正確に把握し、分析結果の精度を向上させることが可能となります。
つまりは、本装置は、試料の複数の観測領域から発せられる光を高精度に分析することができる。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 化学物理生物学
- 高精度な物質分析
- 研究開発の加速
- 教育分野での利用
本装置を用いることで、試料から発せられる光の成分を高精度に分析することが可能となります。これにより、試料の物質特性をより正確に把握することができます。
本装置の高精度な分析能力は、新たな物質の開発や既存の物質の改良における研究開発を加速させます。試料の微細な特性を把握することで、より効率的な研究開発が可能となります。
本装置は、学生が物質の性質を理解するための教育ツールとしても使用することができます。具体的な観測結果を通じて、理論的な知識を実際の現象に結びつけることが可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2016-572194 |
発明の名称 | 多焦点分光計測装置、及び多焦点分光計測装置用光学系 |
出願人/権利者 | 国立研究開発法人科学技術振興機構 |
公開番号 | WO2016/121946 |
登録番号 | 特許第0006622723号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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