国立研究開発法人物質・材料研究機構
分子レベルでの精密な測定を可能にする次世代分子量測定装置
国立研究開発法人物質・材料研究機構
分子レベルでの精密な測定を可能にする次世代分子量測定装置
本特許は、試料の分子量を精密に測定するための方法と装置に関するものです。具体的には、カンチレバーという構造体を用いて、試料が噴流として与えられ、その反力を利用して分子量を計算します。このカンチレバーの変形量は特定の数式によって与えられ、これにより試料の分子量を正確に求めることが可能となります。また、この装置は気体試料だけでなく、気化された液体試料や固体試料にも対応可能であり、その適用範囲の広さが特徴的です。さらに、光学的な検出手段を用いてカンチレバーの変形を測定するため、高度な精度が求められる分析作業にも対応可能です。
つまりは、高度な技術を用いた気体、液体、固体試料の分子量測定方法と装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 化学工業医薬品製造業研究機関
- 分析装置の高精度化
- 新規分子量測定装置の開癞
- 研究機関との協業
この特許技術を用いて、現行の分析装置をアップグレードし、より精密な分析が可能な装置を開発することが可能です。これにより、製品開発や研究開発の精度が向上し、品質向上や新たな発見につながる可能性があります。
この特許技術を活用して、新たな分子量測定装置を開発することができます。これにより、新規の市場を開拓し、独自の商品を提供することで競争優位性を持つことが可能となります。
研究機関と協力して、この特許技術を活用した共同研究を行うことが可能です。新たな分子量測定法の開発や、既存の分析手法の改善など、高度な研究開発を推進することが可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-505316 |
| 発明の名称 | 分子量測定方法および分子量測定装置 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 | WO2016/143719 |
| 登録番号 | 特許第0006403869号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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