国立研究開発法人産業技術総合研究所
精密な粒子径計測へ、革新的な解析法の登場
国立研究開発法人産業技術総合研究所
精密な粒子径計測へ、革新的な解析法の登場
本特許は、分散媒中の粒子の径を計測するための革新的な方法を開示しています。レーザ光をカラム内の分散媒に照射し、カメラを含む撮像部で撮像を行います。ここから複数の撮像された画像から粒子の変位を求め、それに基づき粒子径を算出します。さらに、画像から粒子の散乱光強度と個数濃度を得ることが可能で、これにより相対屈折率を補正し、既知の屈折率を参照することで粒子の材料の判別まで行うことができます。これにより、例えばナノサイズの粒子でも粒子径を計測可能とするだけでなく、粒子の材料の判別まで可能にします。また、光学的な計測方法であるため、サンプリングによるバッチ式の計測に比べて高速でインラインでの粒子径測定が可能です。
つまりは、レーザ光とカメラを活用した粒子径計測方法を提供し、粒子の材料判別まで可能にする特許技術です。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 ナノテクノロジー化学材料科学
- ナノサイズ粒子の品質管理
- 光学計測装置の開発
- 分析サービスの提供
ナノサイズの粒子の製造過程や品質管理のために、本特許の粒子径計測方法を活用することで、精密かつ高速な径の計測と材料判別が可能となります。これにより品質保証を向上させることができます。
本特許の技術を用いて、粒子径を計測する光学計測装置の開発が可能です。この装置は、ナノサイズの粒子でも炒子径を計測可能な点で他の装置と差別化が可能となります。
本特許の粒子径計測方法を基にした分析サービスを提供することで、各種産業における粒子径や材料の判別ニーズに応えることができます。これにより、新たなビジネスチャンスを創出することが可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-510133 |
| 発明の名称 | 粒子径計測方法及びその装置 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | WO2016/159131 |
| 登録番号 | 特許第0006687951号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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