国立大学法人静岡大学
超高解像度で観察する光学顕微鏡システム

国立大学法人静岡大学
超高解像度で観察する光学顕微鏡システム
本特許は、撮像部により散乱された光の像分布を撮像し、反射光を導く特異な光路を備えた観察システムに関するものです。測定部は第3、第4の光路の終端に設けられ、演算部は撮像部にも接続されます。演算部は、シフト量に応じた位相と、その位相を有する干渉結に対応した像分布に基づいて観察対象物の形状分布を算出します。互いに異なる少なくとも3つの位相と、それぞれの位相を有する干渉半に対応した像分布に基づいて観察対象物の形状分布を算出することも可能です。さらに、観察対象物を保持する回転台を備えることで、観察対象物から撮像部へ向かう軸線回りに回転可能です。
つまりは、高い空間分解能を実現する観察システムを提供します。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 バイオテクノロジーヘルスケア研究開発
- 高解像度画像の取得
- 生物学的サンプルの観察
- 高精度な品質検査
本特許の技術を用いることで、観察対象物の高解像度画像を得ることができます。これにより、微細な構造や細部まで詳細に観察することが可能となり、研究や分析の精度を向上させることができます。
本特許の技術は、生物学的サンプルの観察にも活用できます。細胞や組織の詳細な観察が可能となり、これまでにない詳細なデータを得ることができます。これにより、病理学的な分析や診断に役立てることができます。
本特許の技術を製造業の品質検査に活用することで、より詳細な検査が可能となります。これにより、製品の微細な欠陥や不具合を早期に検出し、品質の向上を図ることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2017-535578 |
発明の名称 | 観察システム |
出願人/権利者 | 国立大学法人静岡大学 |
公開番号 | WO2017/030194 |
登録番号 | 特許第0006714917号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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