国立研究開発法人産業技術総合研究所
マイクロスケールで精確な形状測定！
国立研究開発法人産業技術総合研究所
マイクロスケールで精確な形状測定！
本特許は、物体の形状や変形を高精度で広視野で計測する方法と装置を提供します。特にミリ、ミクロン、ナノスケールレベルでの変形計測が可能で、材料科学の分野で大きな注目を集めています。具体的には、試料の表面に表れる格子を示す格子画像を所定の方向にダウンサンプリングおよび輝度補間を行って、モアレ結を取得し、生成します。そして、変位前後のモアレ結の位相分布の差から所定の方向または奥行き方向への変位分布を演算します。この技術は、非破壊計測、実験力学と光学技術の分野に属し、高精度な計測を可能にします。
つまりは、高精度で広視野の三次元形状や微小変形測定が可能な技術です。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 材料科学マイクロエレクトロニクス機械工学
- 高精度な材料評価
- マイクロエレクトロニクス製品の品質管理
- 先端研究の支援
本特許の技術を利用して、新しい材料の評価や既存材料の品質管理に活用できます。特にミクロン、ナノスケールレベルでの変形計測が可能なため、微細な変形や欠陥を検出することができます。
マイクロエレクトロニクス製品の製造過程では、製品の微細な形状や変形を精密に計測することが重要です。本特許の技術を活用すれば、製品の微小な変形や欠陥を高精度で検出することができ、製品の品質管理を向上させることができます。
材料科学や物理学などの研究分野では、微細な物質の形状や変形を精密に計測することが求められます。本特許の技術を利用すれば、非破壊で高精度な計測が可能となり、先端研究を支援します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-541896 |
| 発明の名称 | 周期模様を利用した三次元形状・変位・ひずみ測定装置、方法およびそのプログラム |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | WO2018/061321 |
| 登録番号 | 特許第0006583761号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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