国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
精密な磁性体観察が可能な革新的装置
国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
精密な磁性体観察が可能な革新的装置
本特許の技術は、磁性体の磁化の向きまたは磁化の大きさを高精度に観察する新たな方法と装置に関するものです。特許に記載された装置は、試料に励起線を照射し、その試料から発生する特性X線を検出します。この特性X線は、左円偏光成分と右円偏光成分を含み、その強度の差が算出されます。この算出値は、データ処理部によって試料上の励起線照射位置に対応する形で画像として出力され、磁性体の磁化の向きまたは磁化の大きさを視覚化します。この技術により、開発者は磁性体材料の微細な構造を詳細に理解し、より効率的に材料の開発や改良を行うことが可能となります。
つまりは、本特許は、磁性体の磁化の向きまたは磁化の大きさを観察する方法および装置に関するものです。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 材料科学電子部品製造半導体産業
- マテリアル開発の品質向上
- 新素材開発の推進
- 教育・研究用途への活用
この技術を活用することで、磁性体材料の開発工程における品質管理がより精密に行えます。具体的には、磁化の向きや大きさの観察により、材料の微細な特性を把握し、それに基づいた改良や問題解決が可能となります。
本特許技術は、新たな磁性体素材の開発にも利用することができます。磁化の観察を通じて、新素材の特性を詳細に把握し、その性能を最大限に引き出すための設計や改良の方向性を見つけ出すことができます。
本特許の技術は、教育や研究の現場においても有用です。特に、材料科学や物理学の研究・教育において、磁性体の微細な構造や性質を視覚化し理解するための教材や研究ツールとして活用可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2020-507917 |
| 発明の名称 | 磁性体観察方法および磁性体観察装置 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 |
| 公開番号 | WO2019/182097 |
| 登録番号 | 特許第0007129109号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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