学校法人上智学院
精緻な変位計測の新標準 - 超音波エコーデータによる3次元変位計測装置と方法
学校法人上智学院
精緻な変位計測の新標準 - 超音波エコーデータによる3次元変位計測装置と方法
本特許は、超音波エコーデータを使用して物体の変位を精密に測定する方法と装置に関するものです。具体的には、超音波エコーデータのスペクトルから重心周波数を算出し、これを基にビーム方向を求める手法を提供しています。さらに、機械的なステアリングを行った場合のステアリング角度を感知し、座標系を設定する処理を行います。また、ビーム方向に基づいて超音波エコーデータを回転させ、新たな直交座標系で変位成分を算出する手法も提供します。このようにして、精密な変位計測が可能となります。
つまりは、この特許は、超音波エコーデータを使用して物体の変位を精密に測定する方法と装置を提供しています。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 工学製造業ロボティクス
- 高精度ロボットアームの開発
- 産業用スキャナーの改良
- 地震調査装置の開発
本特許の変位計測方法は、高精度なロボットアームの開発に活用できます。ロボットアームの動きを精密に制御するためには、微細な変位を正確に計測する技術が必要です。本特許の技術を用いれば、より精緻な動作制御が可能となります。
精密な3次元スキャニングが要求される産業用スキャナーに本特許の技術を応用することで、より精確なデータ取得が可能となります。これにより、品質管理や製品設計の精度が向上します。
本特許の技術は、地震の微細な地面の動きを測定する装置の開発にも応用できます。超音波エコーデータを用いた精密な変位計測は、地震の予兆を捉えるための敏感な装置を設計するのに役立ちます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2011-134573 |
| 発明の名称 | イメージング方法及び変位計測方法及び装置、並びに、超音波画像診断装置 |
| 出願人/権利者 | 学校法人上智学院 |
| 公開番号 | 特開2013-000349 |
| 登録番号 | 特許第0005846411号 |
- サブスク
- 譲渡
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