国立大学法人 筑波大学
光散乱体の新次元解析、精緻な光学的測定方法
国立大学法人 筑波大学
光散乱体の新次元解析、精緻な光学的測定方法
本発明は、光散乱体の光学的測定方法、光学的測定装置及び光学的記録媒体に関するもので、微粒子の大きさや形状、あるいは2つの光散乱体間の距離を精密に測定する技術を提供します。散乱光の強度分布を用いて光吸収や光路長を計算することが可能で、さらに散乱体の形状を計測することができます。さらに、光散乱体の形状に基づいて散乱強度を計算することで、光散乱体を計測することが可能となります。また、具体的な光学的測定装置の構成も提供しており、これにより、より効率的で精緻な光散乱体の測定が可能となります。
つまりは、本特許は、散乱光の特性を利用して光散乱体の特性を精密に測定する新たな光学的測定方法およびその装置について説明しています。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 光学機器製造業ナノテクノロジー産業バイオテクノロジー産業
- 微粒子測定装置の開発
- 高度な品質管理システムの構築
- 先端研究の支援
本特許の光学的測定方法を用いて、微粒子の精密な測定を可能にする装置を開発することができます。これにより、例えば医療や製薬業界における微粒子の分析や、材料科学における新材料の開発に貢献することが可能です。
本特許の技術を活用して、製造過程における微細な部品や材料の品質管理を行うシステムを構築することが可能です。これにより、製品の品質をより高度に保証し、生産効率を向上させることができます。
本特許の技術を用いて、微粒子や光散乱体の特性を詳細に解析できる装置を開発し、先端的な科学研究を支援することができます。これにより、新たな科学的知見の発見や、新技術の開癞に貢献することが可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2013-049705 |
| 発明の名称 | 光散乱体の光学的測定方法、光学的測定装置及び光学的記録媒体 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人 筑波大学 |
| 公開番号 | 特開2014-174124 |
| 登録番号 | 特許第0006183826号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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