地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
精度高く配光分布を測定する、画期的な配光測定装置と方法
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
精度高く配光分布を測定する、画期的な配光測定装置と方法
本特許では、面発光体の光出射面における部分領域からの出射光を取り出し、その出射光を部分領域のサイズに対応した距離だけ光出射面から離れた位置で受光する配光測定装置および方法が提供されます。この方法では、各部分領域からの受光結果を得たら、その受光結果を演算部で積算し、全領域からの出射光の配光分布を求めます。さらに、演算部は、前記光出射面と遮蔽板との間隙距離に基づいて測定結果を補正します。このように、本特許では、より正確な配光分布の計測を可能にする新たな配光測定装置と方法を提供します。
つまりは、本特許は、面発光体の配光分布を測定する配光測定装置および方法に関するもので、より正確な配光分布の計測を可能にします。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 照明業界光学機器製造業空間設計業界
- 高精度な照明設計
- 光学機器の精度向上
- 空間設計の最適化
本特許の配光測定装置と方法は、照明設計業界での活用が期待できます。より正確な配光分布の計測により、照明の配置や強度を最適化することで、効果的な照明計画を作成することが可能になります。
光学機器製造業界でも、本特許の配光測定装置と方法は有用です。製品の性能向上や品質管理において、正確な配光分布の計測は不可欠です。本特許を活用することで、より高精度な光学機器を製造することが可能となります。
空間設計業界でも、本特許の活用が期待できます。照明の配置や強度は、空間の印象を大きく左右します。本特許を活用することで、配光分布を正確に計測し、より良い空間設計を行うことが可能になります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2013-125803 |
| 発明の名称 | 配光測定装置および配光測定方法 |
| 出願人/権利者 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター |
| 公開番号 | 特開2015-001434 |
| 登録番号 | 特許第0006122706号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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