国立大学法人 大分大学
革新的なスキャンBISTのLFSRシード生成方法
国立大学法人 大分大学
革新的なスキャンBISTのLFSRシード生成方法
本特許は、スキャンBISTのLFSRシード生成方法に関するもので、効率的なテストパターン生成が可能となります。具体的には、論理回路の動作を制御するための反転制御回路と、XORネットワークの出力を使用します。さらに、シード生成モデルは、フェーズシフタグループや組合せ回路部分の複製を備え、これらを活用してシードの生成を行います。また、マルチプレクサを用いて、XORネットワークの出力と組合せ回路部分の出力を時間的に切り替えることが可能です。これにより、テストパターン生成ツールを用いた対象逆障のテスト生成が可能となります。
つまりは、XORネットワークと反転論理回路を組み合わせた効率的なスキャンBISTのLFSRシード生成方法
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子業界半導体業界コンピュータハードウェア業界
- 高効率なテストパターン生成
- テストの信頼性向上
- テスト工程の自動化
この特許技術を使用して、高効率なテストパターン生成を行うことが可能です。これにより、テストの時間を大幅に短縮し、生産性を向上させることが可能となります。
フェーズシフタグループや組合せ回路部分の複製を使用することで、より信頼性の高いテストを行うことが可能となります。これにより、製品の品質を保つことができます。
テストパターン生成ツールを用いることで、テスト工程を自動化することが可能となります。これにより、人的ミスを減らすことができ、さらに効率的な生産を実現することが可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-146027 |
| 発明の名称 | スキャンＢＩＳＴのＬＦＳＲシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人 大分大学 |
| 公開番号 | 特開2015-038473 |
| 登録番号 | 特許第0006391336号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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