学校法人上智学院
精密な変位計測が可能な革新的な超音波装置
学校法人上智学院
精密な変位計測が可能な革新的な超音波装置
本特許は、超音波を用いて物体の微細な変位を高精度に計測する装置について説明しています。特定の周波数領域におけるスペクトルを利用して超音波エコーデータを生成し、それを基に物体の変位を計算します。この装置は深さ方向や横方向の変位を捉え、3次元または2次元の変位ベクトルを計算することが可能です。さらに、異なる時相の超音波エコーデータを用いて計算を行うことで、より精密な計測が可能となっています。窓掛けされたスペクトルや重ね合わされたスペクトルなど、様々なスペクトルを利用して分析を行うことができます。これにより、物体の微細な変位を正確に計測することが可能になります。
つまりは、次世代の超音波技術を利用した高精度な変位計測装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業建設業医療業
- 精密機器の品質管理
- 建築物の安全性評価
- 医療診断への応用
製造過程での微細な変位を検出し、品質管理に活用することが可能です。これにより、製品の品質を一貫して高いレベルに保つことができます。
建築物の微細な変位を計測し、そのデータを基に建物の安全性を評価することができます。これにより、建築物の安全確保に貢献することが可能です。
人体の微細な変位を計測することで、病気の早期発見や診断の精度向上に貢献することができます。これにより、より効果的な治療法の提案が可能になります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-243937 |
| 発明の名称 | 変位計測装置、並びに、超音波診断装置 |
| 出願人/権利者 | 学校法人上智学院 |
| 公開番号 | 特開2015-042344 |
| 登録番号 | 特許第0005979682号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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