地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
精密なX線三次元測定が可能な革新的装置
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
精密なX線三次元測定が可能な革新的装置
本特許は、高精度なX線三次元測定装置及びその測定方法について説明しています。例えば、三次元プリンタで作成された複雑な部品や製品の精密な検査に適用されます。この装置は、三次元座標軸上で測定対象物のX線画像を取得し、その三次元形状の位置情報を取得します。さらに、X線画像の画素サイズよりも小さいメッシュを設定し、取得した位置情報をメッシュ上に配置します。この情報を基に、画像の補正とエッジの推定が行われます。これにより、高い寸法精度の実現と、複雑な形状や内部構造の精密な測定が可能になります。
つまりは、高度な精密検査技術を使用したX線三次元測定装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業医療機器業界航空宇宙産業
- 三次元プリンタ製品の品質保証
- 内部構造の精密測定
- 研究開発の支援
三次元プリンタで作成された製品や部品の精密な検査にこのX線三次元測定装置を活用することで、製品の品質保証や性能評価をより高度に行うことができます。
複雑な形状や内部構造を持つ製品の精密な測定が可能です。従来の測定方法では対応困難だったものも、この装置を用いることで詳細な構造解析が可能になります。
このX線三次元測定装置は、新たな製品や部品の研究開発を支援します。試作品の精密な検査を行い、設計の改良や最適化に役立てることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2013-224627 |
| 発明の名称 | Ｘ線三次元測定装置及びＸ線三次元測定方法 |
| 出願人/権利者 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター |
| 公開番号 | 特開2015-087182 |
| 登録番号 | 特許第0006210841号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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