国立研究開発法人物質・材料研究機構
高精度軽元素分析装置とその分析手法
国立研究開発法人物質・材料研究機構
高精度軽元素分析装置とその分析手法
本特許では、2次イオン検出器にビーム通過孔が設けられた軽元素分析装置を提供します。この装置は、サンプル上の分析対象部をイオン検出面と電子検出面に対向配置し、分析対象部からの最短距離を特定の範囲内に設定します。対象部から放射された電子と2次イオンをそれぞれ検出し、電子を初めて検出した時点から2次イオンの飛行時間後のイオン強度を測定します。これにより、分析対象部での軽元素量を算出します。さらに、イオン強度の検出を行いながら、イオンビームを一方向に走査して線状領域の軽元素量を算出する手法や、イオンビームを一方向及びこれに直交する方向に走査して面状領域の軽元素量を算出する手法も含まれています。本特許は、軽元素分析の精度を大幅に向上させる可能性があります。
つまりは、本特許は、イオンビーム顕微鏡を使用した軽元素分析装置とその分析手法に関するものです。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 材料科学バイオテクノロジー環境科学
- 高品質な素材開発のための軽元素分析
- 環境汚染物質の分析
- バイオテクノロジーへの応用
本特許技術を活用して、新素材の開発や既存素材の改善に使用可能です。具体的には、材料の軽元素の分布や量を高精度に分析することで、素材の特性をより詳細に理解し、最適化を図ることが可能になります。
本特許技術を環境科学の分野で活用することで、環境汚染物質の軽元素分析が可能になります。これにより、汚染源の特定や汚染物質の挙動の理解に役立てることができます。
バイオテクノロジー分野では、微生物や細胞の軽元素分析を行うことで、生物の代謝や生理機能の理解を深めることが可能です。本特許技術は、そのような研究に貢献する可能性があります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-132149 |
| 発明の名称 | 軽元素分析装置及び軽元素分析方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 | 特開2016-011840 |
| 登録番号 | 特許第0006367618号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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