知財活用のイノベーションで差別化を

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国立研究開発法人産業技術総合研究所
細線の直径を精密に測定する直径分布測定装置とその方法

国立研究開発法人産業技術総合研究所
細線の直径を精密に測定する直径分布測定装置とその方法

本発明は、細線の直径分布を測定するための装置と方法に関するものであり、レーザ回折を利用しています。具体的には、細線の一端を上端固定部材に、他端を下端固定部材に固定し、これらを回転ステージと下回転ステージの支持具に固定します。これにより、細線を鉛直方向に吊り下げ支持することができます。次に、回転ステージと下回転ステージを同期して鉛直な回転軸の回りに360度の角度範囲で回転位置決めを行います。さらに、長さ方向に上下方向位置決めを行い、各回転位置毎及び各上下方向位置毎に、レーザ光源からのレーザ光東中に細線を配置してレーザ回折像を配列光学センサー上に結びます。最後に、配列光学センサーの出力分布から中心に最も近い一対の回折像暗部間の距離を求め、細線の直径を算出します。これにより、細線の直径の角度分布及び長さ方向の分布を求めることが可能となります。

つまりは、レーザ回折を利用して細線の直径分布を精密に測定する装置とその方法を提供します。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 工業繊維産業電子部品製造業

  • 繊維製品の品質管理
  • 織物や繊維製品の製造プロセスにおいて、細線(糸)の直径分布を精密に測定し、品質管理を高度化することが可能です。

  • 電子部品の精密検査
  • 電子部品の製造過程において、微細な導線の直径を精密に測定し、製品の品質向上や不良品の発見を早期に行うことができます。

  • 研究・開発の支援
  • 新素材の開発や既存素材の改良研究において、細線の直径分布を精密に測定することで、より詳細なデータ取得と解析が可能となります。これにより、研究・開発の効率化と精度向上を図ることができます。

活用条件

  • サブスク
  • 譲渡
  • ライセンス

商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ

特許評価書

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  • 権利概要
出願番号特願2014-153793
発明の名称直径分布測定装置
出願人/権利者国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号特開2016-031285
登録番号特許第0006323870号
  • サブスク
  • 譲渡
  • ライセンス

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