国立研究開発法人産業技術総合研究所
リチウムイオン二次電池電極の革新的な解析手法
国立研究開発法人産業技術総合研究所
リチウムイオン二次電池電極の革新的な解析手法
本発明は、リチウムイオン二次電池電極の電気化学オペランド軟X線吸収/発光分光の実現を可能とする、SiN薄膜を用いた薄膜電極を提供します。従来のリチウムイオン二次電池用正極・負極材料の解析は、放射光硬X線吸収分光などが主流でしたが、充放電に最も重要な情報を詳しく解明することが困難でした。また、放射光軟X線吸収分光や軟X線発光分光を用いると、電極を真空中に置く必要があり、電解液を伴う充放電動作下(オペランド)測定は困難でした。本発明により、リチウムイオン二次電池における正極・負極材料の詳細な解析が可能となり、性能向上や新規材料の開発に寄与できます。
つまりは、SiN薄膜を用いたリチウムイオン二次電池電極の電気化学オペランド軟X線吸収/発光分光の実現
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電池製造業自動車業界エネルギー業界
- 高性能二次電池の開発
- バッテリー寿命の延伸
- 電池の安全性向上
本発明の手法を活用し、リチウムイオン二次電池の電極材料の電子状態を詳細に解析。これにより、性能向上や新規材料の開発に寄与します。
本発明の手法を利用して、電池の充放電機構を詳細に解析。これにより、バッテリーの寿命を延ばす新たな手法や材料を開発することが可能になります。
リチウムイオン二次電池の構成部材の電子状態を詳細に解析することで、電池の内部反応を理解し、電池の安全性を向上させる策を研究・開発することが可能になります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-164810 |
| 発明の名称 | 軟Ｘ線を用いた二次電池オペランド測定用電極 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2016-040763 |
| 登録番号 | 特許第0006323873号 |
- サブスク
- 譲渡
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