国立大学法人信州大学
より精度の高いX線分析を実現する技術
国立大学法人信州大学
より精度の高いX線分析を実現する技術
本技術は、X線の強度を変調し、その偏光状態を分析するものです。具体的には、異なるX線散乱能を有する原子で構成された磁性体を用い、その磁化状態を操作します。この磁性体は、X線の回折強度のうち、磁化に依存しない部分については複数種の原子からの散乱波の干渉によって強度が弱められ、磁化に依存する部分については強度が維持される特性を持っています。これにより、磁性体によって回折された被変調X線の強度のうち、磁化に依存しない部分を抑制することが可能となります。また、磁性体を回転させることで、被測定X線の電場ベクトルの振動方向を相対的に回転させることも可能です。
つまりは、X線の強度と磁化状態を操作し、磁性体の特性によってX線の強度を調整する技術
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療業界製造業研究開発
- X線画像の精度向上
- 高精度な放射線治療
- X線を用いた材料分析
本技術を用いることで、X線画像の画質や解析精度を向上させることが可能となります。これにより、医療現場での診断精度や製品の非破壊検査の精度が向上する可能性があります。
本技術を活用することで、放射線治療の精度を向上させることが可能です。磁性体によるX線の強度調整を利用し、必要な部位にだけ適切な強度のX線を照射することで、治療効果を高めつつ健康な細胞への影響を最小限に抑えることができます。
本技術を用いて、X線を利用した材料の分析精度を向上させることが可能です。特に、微細な構造を持つ材料の性質を詳細に分析する際に有用で、新素材の開発や既存素材の品質管理に役立てることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-167309 |
| 発明の名称 | Ｘ線強度変調法及びＸ線偏光状態分析法 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人信州大学 |
| 公開番号 | 特開2016-045000 |
| 登録番号 | 特許第0006602001号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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