国立大学法人金沢大学
高精度な電子スピン共鳴測定を可能にする技術
国立大学法人金沢大学
高精度な電子スピン共鳴測定を可能にする技術
本特許は、電子スピン共鳴測定装置、電子スピン共鳴を測定するための半導体装置、及び、電子スピン共鳴の測定方法に関するもので、高精度な測定が可能な装置と方法を提供します。発振回路形成部とインダクタ部とが同一の半導体装置上に形成されており、これらにより形成される発振回路は電圧制御発振器で、素子パラメータは電圧で調整可能です。これにより、測定対象物に対して所定の直流磁場と交流磁場を印加し、電子スピン共鳴スペクトルを測定します。さらに、発振回路の発振周波数を素子パラメータで変化させることで、電子スピン共鳴スペクトルを高精度に取得することが可能となります。
つまりは、本特許は、半導体装置を用いた電子スピン共鳴測定装置及びその測定方法に関するものである。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 半導体産業医療技術物質科学
- 精密な物質分析のための装置開発
- 高度な医療診断技術の開発
- 高精度な科学研究装置の開発
本特許の技術は物質の詳細な特性を解析するための装置開発に活用できます。特に、分子や磁性体材料に含まれる不対電子の量を高精度に測定することが可能となるため、新しい物質の発見や既存物質の特性解析に役立ちます。
電子スピン共鳴は生体内の自由基などを検出するために利用されることがあります。本特許の技術を用いて開発された装置や方法は、これらの生体内物質の精密な測定を可能にし、疾患の早期発見や治療効果の評価に貢献します。
本特許の技術は、科学研究における精密な測定を必要とする多くの領域で活用できます。具体的には、物理学、化学、材料科学などの実験において、微細な物質の特性を詳細に分析するための装置として用いることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-167768 |
| 発明の名称 | 電子スピン共鳴測定装置、半導体装置、及び電子スピン共鳴の測定方法 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人金沢大学 |
| 公開番号 | 特開2016-045016 |
| 登録番号 | 特許第0006362964号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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