国立研究開発法人産業技術総合研究所
高性能なヒ素イオン検出のための金ナノ粒子含有カーボン薄膜電極
国立研究開発法人産業技術総合研究所
高性能なヒ素イオン検出のための金ナノ粒子含有カーボン薄膜電極
本発明は、水質、土壌、作業環境、食品などの分析、調査においてヒ素イオンを高感度で検出するための電極とその製造方法を提供します。電極は金ナノ粒子含有のカーボン薄膜で構成され、その粒径は7nm以下です。この電極を使用した装置は、ヒ素イオンの濃度を電気化学的に測定します。電極の製造方法は、スパッタリング法により基板上に金ナノ粒子含有のカーボン薄膜電極を成膜させる工程を含みます。この工程では、カーボンターゲットと金ターゲットのターゲットパワーを独立して制御し、金ナノ粒子の含有量を制御します。
つまりは、本発明は、ヒ素イオンの電気化学的な検出法に関するもので、金ナノ粒子含有のカーボン薄膜電極を用いることで、高感度かつ簡便にヒ素イオンを検出することが可能です。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 環境分析食品安全工業廃棄物処理
- ヒ素イオン検出のための分析キットの開発
- 高感度ヒ素イオンセンサの製造
- カーボン薄膜電極の製造技術のライセンス提供
ヒ素イオンの電気化学的な検出法を用いた分析キットを開発し、そのキットを水質汚染の監視や飲料水の安全性確認に活用する。
本発明のカーボン薄膜電極を使用した高感度のヒ素イオンセンサを製造し、環境調査や食品製造業でのヒ素イオンの検出に使用する。
金ナノ粒子含有のカーボン薄膜電極の製造技術をライセンス提供し、他社による新たな製品開発や既存製品の性能向上に寄与する。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-195454 |
| 発明の名称 | 電気化学測定用の金ナノ粒子含有カーボン薄膜電極及び当該電極を用いたヒ素イオンの電気化学検出法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2016-065815 |
| 登録番号 | 特許第0006433740号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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