国立研究開発法人理化学研究所
先進の波面歪み補償技術でより精密な光学測定を実現
国立研究開発法人理化学研究所
先進の波面歪み補償技術でより精密な光学測定を実現
本特許は、レンズの焦点面に配置された測定対象物にレーザー光を導き、測定対象物上で走査することで光学測定を行うことができる装置と方法に関するものです。具体的には、波面変調器によって位相変調を与え、この位相変調を周期的に変化させることで、測定対象物から生じる光が結像される位置に配置された光検出器で光の強度を検出します。その結果から、波面歪み量を算出し、その波面歪み量を打ち消す位相変調を波面変調器に与えて補償します。これにより、高精度な光学測定が可能となります。
つまりは、レーザー走査型光学測定装置と広視野光学測定装置に最適化された、波面歪み量を補償する装置と方法が提供されます。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 光学機器製造業医療機器製造業半導体製造業
- 高精度な光学検査装置の開発
- 先進的な医療機器の開発
- 研究用の光学測定システムの開発
本技術は、光学検査装置の精度を高めるために活用することができます。波面歪みを補償することにより、より精密な光学検査が可能となります。製品の品質向上に寄与します。
本技術は、例えば眼科での視力検査や各種の内視鏡検査など、医療機器の光学系に応用することができます。波面歪みを補償することで、より高精度な検査結果を提供することが可能になります。
本技術は、研究所や大学などで利用される光学測定システムの開発にも活用できます。特に、非線形光学測定装置などの先進的な測定システムにおいて、より高い精度と信頼性を実現することができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-266374 |
| 発明の名称 | 波面歪み量測定装置、波面補償装置、光学測定装置、および方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人理化学研究所 |
| 公開番号 | 特開2016-125895 |
| 登録番号 | 特許第0006379031号 |
- サブスク
- 譲渡
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