国立研究開発法人産業技術総合研究所
光の力で最適な品質管理 - 先進の表面検査装置

国立研究開発法人産業技術総合研究所
光の力で最適な品質管理 - 先進の表面検査装置
本特許は、物体表面の性状を偏光成分と色成分から検査・判断する表面検査装置に関するものです。散乱光をP偏光成分とS偏光成分に分離し、それぞれを複数の波長の光の強度に関する検出画像として取得します。この検出画像から、偏光強度比相関パラメータと色強度比相関パラメータを取得し、これらの値に基づいて物体表面の性状を判断します。特徴量抽出から判断パラメータの算出、そして性状の判断までを行うことで、高精度な表面検査が可能になっています。
つまりは、物体表面の性状を光の偏光成分と色成分から検査・判断する表面検査装置です。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業半導体業界自動車産業
- 品質管理の最適化
- 生産ラインの効率化
- 新たな材料開発の支援
製品の表面状態はその品質を左右する重要な要素です。本特許の技術を導入することで、製品の表面状態を高精度に検査し、品質管理を最適化することが可能となります。
本特許の技術を生産ラインに組み込むことで、リアルタイムでの表面検査が可能となります。これにより、不良品の早期発見と修正が可能となり、生産効率の向上が期待できます。
新たな材料の開発過程では、その材料の表面性状が重要な要素となります。本特許の技術を活用することで、新材料の表面性状を詳細に分析し、材料開発の支援が可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2015-013402 |
発明の名称 | 表面検査装置および表面検査方法、ならびにそのためのプログラムおよびそのプログラムの記録媒体 |
出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
公開番号 | 特開2016-138790 |
登録番号 | 特許第0006475027号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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