国立大学法人 香川大学
新世代の最高精度分光特性測定装置
国立大学法人 香川大学
新世代の最高精度分光特性測定装置
本特許は、被測定物から発せられた測定光を分割し、連続的な光路長差分布を付与し、干渉光を形成する装置を提供します。この装置は振幅型回折格子を用いて測定光を分割し、光路長差付与手段により連続的な光路長差分布を付与します。結像光学系により干渉光を形成し、結像面に配置された複数の画素を有する干渉光検出部で干渉光の光強度を検出します。インターフェログラムを求め、それをフーリエ変換することでスペクトルを取得します。これにより、高精度な分光特性の測定が可能となります。
つまりは、高精度な分光特性を測定するための装置で、測定光の分割、光路長差の付与、干渉光の生成と検出などの機能を持つ。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 研究開発光学ヘルスケア
- 高精度光学機器開発
- 研究開発の効率化
- 医療分野への応用
光学機器の製造業者は、この技術を利用して、より高度な精度を持つ光学機器を開発することが可能となります。これにより、精度の高い計測や分析が可能となり、製品の競争力を向上させることができます。
研究開発機関や大学などは、この技術を利用して、分光特性の測定をより効率的に行うことが可能となります。これにより、研究開発のスピードを向上させることができます。
ヘルスケア業界は、この技術を利用して、より高精度な医療機器を開発することが可能となります。特に、光を用いた診断や治療において、精度の高い分光特性の測定は極めて重要であり、診断の精度や治療効果を向上させることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2015-015733 |
| 発明の名称 | 分光特性測定装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人 香川大学 |
| 公開番号 | 特開2016-142522 |
| 登録番号 | 特許第0006385288号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
準備中です