国立研究開発法人産業技術総合研究所
変形計測の新時代：モアレ画像に基づく変形計測技術
国立研究開発法人産業技術総合研究所
変形計測の新時代：モアレ画像に基づく変形計測技術
本特許は、画像処理プログラムを活用して変形計測を行う方法と装置を提供します。特に、モアレ画像を基にした変形計測に特化しており、その計測精度と効率化を実現します。具体的には、変形前と変形後のモアレ画像をデジタルで加算、減算、または乗算処理し、その結果に基づく二次モアレ画像を生成します。この二次モアレ画像は、連続的な変形を計測するための基礎となります。さらに、装置は走査型顕微鏡やレンズ、CCD、CMOSセンサなどを備えたカメラ、記憶装置、及び情報処理装置を含みます。このテクノロジーは、材料の力学的特性評価などの各種応用分野で活用が期待されます。
つまりは、高精度で、連続的な変形計測を可能にする画像処理プログラムと装置の組み合わせ
AIによる特許活用案
おすすめ業界 材料科学生物医学研究半導体製造
- 高精度な材料評価システムの開発
- バイオメディカルリサーチの精度向上
- 半導体製造の品質管理向上
本特許は、材料の力学的特性を評価する際の精度を大幅に向上させることが可能です。特に、微細な変形を評価する必要がある材料科学の分野で、これまで以上の詳細さと精度で材料の挙動を理解することが可能となります。
生物医学研究の分野でも、本特許のテクノロジーは有用です。細胞や組織の微細な変形を詳細かつ精度高く計測することで、病気の進行や治療の効果を評価する新たな手法を提供します。
半導体製造における微細な変形の検出は、製品の品質管理に極めて重要です。本特許の技術を適用することで、これまで検出が難しかった微細な変形を早期に検出し、製造プロセスの最適化と品質向上に寄与します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2015-021532 |
| 発明の名称 | 二次モアレ縞による顕微鏡走査ゆがみの影響を受けない変形測定方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2016-142726 |
| 登録番号 | 特許第0006472675号 |
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