診断対象回路のスキャンFF(フリップフロップ)に設定されたテストパターンに基づき、異なるクロック周期で生成された応答シグネチャと期待シグネチャを比較し、精密な回路診断を実現する装置および方法に関するものです。このシステムは、大容量の不揮発性メモリを必要とせずに、回路の故障箇所を高精度に特定できるという特徴を持っています。

ＬＳＩの劣化故障について，ＢＩＳＴにより使用環境で最大分解能の故障診断を実現するための，テスト毎の期待署名をオンザフライで提供する回路機構

本発明における回路診断テスト装置は、テスト対象の集積回路内のスキャンチェーンを用いて診断を行います。装置は、テストパターンを設定し、第一周期とそれより長い第二周期でクロック信号を出力するクロック周期設定部と、これらの周期で得られた応答パターンに基づき生成される応答シグネチャと期待シグネチャを比較する診断テスト部を備えています。この比較により、診断対象回路の故障有無および故障箇所を精密に特定することが可能です。メモリの容量に依存することなく、故障診断の精度を向上させる点が画期的です。