国立大学法人秋田大学
高精度な磁性体試料の磁気特性測定器

国立大学法人秋田大学
高精度な磁性体試料の磁気特性測定器
本発明は、磁性体試料の磁気特性を測定するための装置および方法に関するものです。磁性体試料に固定されたカンチレバーを励起し、変動磁場を印加して試料を磁化する工程、試料の振動を検出し、振動の変化量を計測する工程、そして、振動の変化量と変動磁場との関係から磁気特性の情報を得る工程を含みます。また、変動磁場は強度ゼロから強度最大を経て再び強度ゼロに戻る過程を少なくとも含みます。このため、微小な磁性体試料でも高精度に磁気特性を測定することが可能となります。
つまりは、磁性体試料の磁気特性を効率的かつ高精度に測定する装置および方法を提供します。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 半導体産業電子部品製造業研究開発
- マイクロスケールの磁気特性測定
- 高性能磁石材料の特性評価
- 研究開発への活用
微小な磁性体試料の磁気特性を正確に測定するための手法として利用可能です。例えば、電子部品製造や半導体産業など、微細な磁性体の特性を詳細に把握することが求められる分野での利用が考えられます。
高性能磁石材料の磁気特性を評価するために使用することも可能です。これにより、材料の選定や品質管理の精度を向上させることができます。
磁性体の研究開発において、新たな材料やデバイスの特性を詳細に把握するためのツールとして活用できます。これにより、より効率的な研究開発が可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2015-074471 |
発明の名称 | 磁性体の磁気特性の測定装置および測定方法 |
出願人/権利者 | 国立大学法人秋田大学 |
公開番号 | 特開2016-194455 |
登録番号 | 特許第0006544562号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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