学校法人 関西大学
高度に精度の半導体抵抗異常検出装置
学校法人 関西大学
高度に精度の半導体抵抗異常検出装置
本発明の半導体の抵抗異常検出装置は、半導体素子を構成する全ての抵抗素子の抵抗値を求め、その平均値に対して所定範囲から外れる抵抗値の抵抗素子を抽出して不良と評価します。さらに、配線V i aでの半不良を検出するためのアドレス指定可能なテストアレイ構造が採用されています。これは、測定効率を向上させるために二重入れ子アレイ構造になっており、それぞれの単位ブロックに対して2つのチェーンが配置されています。これにより、単位セルの半不良を効率的に検出することが可能です。
つまりは、抵抗素子の抵抗値を評価し、その平均値に対して所定範囲から外れる抵抗値の抵抗素子を抽出する半導体の抵抗異常検出装置。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 半導体製造業電子部品製造業電気機器製造業
- 半導体製造プロセスの品質管理
- 電子部品の効率的な検査
- 半導体教育の実習材料
半導体製造プロセスでは、製品の品質管理が重要です。本技術を利用すれば、製造過程での抵抗異常を早期に検出し、その原因を特定することが可能となります。これにより、製品の不良率を大幅に削減することができます。
電子部品の検査には時間とコストがかかりますが、本技術を利用すれば、検査の効率を大幅に向上させることが可能です。特に、抵抗値の異常を迅速に検出することができるため、電子部品の品質保証に大いに貢献します。
半導体技術はますます進化しており、その理解を深めることは重要です。本技術は、半導体の抵抗異常検出方法を具体的に示しているため、教育現場での実習材料として活用することが可能です。これにより、学生たちは半導体の品質管理や検査方法について深く理解することができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2015-247449 |
| 発明の名称 | 半導体の抵抗異常検出装置 |
| 出願人/権利者 | 学校法人 関西大学 |
| 公開番号 | 特開2017-112310 |
| 登録番号 | 特許第0006702714号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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