国立研究開発法人産業技術総合研究所
非破壊で欠陥を検出する最先端技術
国立研究開発法人産業技術総合研究所
非破壊で欠陥を検出する最先端技術
本特許は、被検査体の欠陥を検査する方法と装置について説明しています。具体的には、被検査体に応力を印加し、その状態で赤外線やレーザー光を照射して欠陥を検出します。加熱や冷却は部分的に行うことも可能で、被検査体がガラスの場合や、搬送中の被検査体を検査する方法も提供します。さらに、この技術は非破壊的であるため、検査後も被検査体を使用することが可能です。このため、製造工程中の品質検査や、製品の劣化検査などに活用できます。
つまりは、被検査体の欠陥を非破壊的に検査するための方法と装置についての特許。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業半導体ガラス・窯業
- 品質検査の効率化
- 透明素材の欠陥検査
- 製品の劣化検査
製品の品質検査を非破壊的に行うことで、検査後も製品を利用することが可能になります。これにより、検査の効率化とコスト削減が期待できます。
透明な素材（特にガラス）の欠陥検査に活用することができます。欠陥部に応力を印加した状態でレーザー光を照射し、欠陥部を検出します。
製品の劣化検査にも活用できます。製品に応力を印加し、その反応を検査することで、製品の劣化状態を非破壊的に把握することが可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2015-256279 |
| 発明の名称 | 欠陥を検査する方法、および欠陥検査装置 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2017-120202 |
| 登録番号 | 特許第0006618354号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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