学校法人慶應義塾
デュアルコム分光法を用いた革新的な偏光計測装置
学校法人慶應義塾
デュアルコム分光法を用いた革新的な偏光計測装置
本特許（JP 6632059 B2）に記載されている偏光計測装置は、特定の光の偏光状態を計測するための独自の装置と手法を提供します。この装置は、第1と第2の光周波数コム光源を使用し、試料を照射します。試料からの出射光は変調素子により偏光状態が調節され、その後、両光源からの出力光の干渉光が検出されます。この検出された干渉光を用いて、試料を透過した光の偏光状態が計測されます。この計測方法は、高速で高精度の分光計測を可能にするデュアルコム分光法を採用しており、光の偏光状態を高精度に計測することが可能です。
つまりは、この特許では、高分解能かつ高速なデュアルコム分光法を用いた偏光計測装置と方法が提案されています。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 光学機器製造業研究開発ヘルスケア
- 光学機器の開発
- 研究開発への応用
- ヘルスケア分野への応用
本特許の技術は、光学機器の開発において有用です。新しいタイプの偏光計測装置の設計や、既存の装置の改良にこの技術を適用することで、より高精度な計測が可能となります。
科学的研究や開発の分野で、本特許の技術を活用することで、試料の特性をより詳細に調査することが可能になります。特に、光の偏光状態を精密に計測することが必要とされる分野での使用が考えられます。
特に生物医学分野では、組織や細胞の光学的性質を評価するために、詳細な偏光計測が必要となる場合があります。この特許の技術を用いることで、より正確で迅速な診断が可能となり、患者のケアに対する影響を最小限に抑えることが可能になります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-017537 |
| 発明の名称 | デュアルコム分光法を用いた偏光計測装置及び偏光計測方法 |
| 出願人/権利者 | 学校法人慶應義塾 |
| 公開番号 | 特開2017-138129 |
| 登録番号 | 特許第0006632059号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
準備中です