株式会社ミツトヨ
視線で選択、測定データ管理の新次元
株式会社ミツトヨ
視線で選択、測定データ管理の新次元
本特許は、測定データの収集、記録、編集を容易に行うための測定システムに関するもので、視線の位置とモニタ画面の表示内容を対比してユーザが意図する測定対象箇所を特定する機能を有しています。ユーザがアイポイントデバイスを装着し、視界中のコマンドを選択することで、測定対象物を測定し、そのデータを外部に出力します。さらに、ユーザの前方にある実物を撮像する外部カメラと、視界にグラフィカルユーザインターフェース画像を投影するプロジェクター部を備えています。これにより、ユーザは視線の動きだけで測定対象箇所を選択し、測定データの収集や編集をスムーズに行うことが可能になります。
つまりは、眼の動きで測定対象箇所を選択し、データの収集や編集を行う測定システムの特許
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業医療機器業界研究開発
- 製造業での品質管理
- 医療機器の精密検査
- 研究開発の効率化
製造業では、製品の品質管理において測定作業が欠かせません。この特許の技術を活用すれば、視線の動きだけで測定箇所を選択し、データを収集、記録、編集することができます。これにより、作業効率を大幅に向上させることが可能となります。
医療機器の検査では、細部まで精密に測定することが要求されます。視線で測定箇所を選択し、データを収集することで、より正確で効率的な検査が可能となります。
研究開発の現場では、試作品の評価や検証作業に多くの時間を割くことが一般的です。このシステムを導入すれば、視線だけで測定データを収集、記録、編集できるため、作業時間を大幅に短縮することができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-032874 |
| 発明の名称 | 測定システム |
| 出願人/権利者 | 株式会社ミツトヨ |
| 公開番号 | 特開2017-151672 |
| 登録番号 | 特許第0006700849号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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