国立大学法人 香川大学
高精度で効率的な分光測定装置

国立大学法人 香川大学
高精度で効率的な分光測定装置
本発明の分光測定装置は、被測定物からの光を特定の方向に2つに分ける分割光学系、光路長差を付与する手段、結像光学系、干渉光の強度を検出する干渉光検出部、スペクトルを取得する処理部、共役面結像光学系、振幅型回折格子を備えています。特に、直線偏光板のうち一つが、表面反射光に由来する偏光を減衰させつつ、被測定物の内部から放出された光を通過させることが特徴です。これにより、高精度な分光測定が可能になります。
つまりは、表面反射光の偏光を減衰させ、被測定物の内部から放出された光を通過させる分光測定装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 光学産業科学研究医療機器
- 高精度な分光測定を必要とする研究所への提供
- 光学素材の品質管理に活用
- 医療機器の開発に活用
本発明の分光測定装置は、高精度な分光測定が可能なため、科学研究や医療研究など、精密な測定を必要とする研究所での使用に適しています。
本発明の分光測定装置は、光学素材の品質管理に活用できます。特に、光の反射や透過特性を詳細に調べる必要がある場合、本装置を使用することで効率的かつ高精度に測定を行うことが可能です。
本発明の分光測定装置は、医療機器の開発にも活用可能です。特に、体内の組織や液体の光学的特性を詳細に調べる必要がある場合、本装置を使用することでより高精度なデータを得ることが可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2016-040357 |
発明の名称 | 分光測定装置 |
出願人/権利者 | 国立大学法人 香川大学 |
公開番号 | 特開2017-156245 |
登録番号 | 特許第0006744005号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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