国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な位相差検出と誤差測定が可能な装置
国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な位相差検出と誤差測定が可能な装置
本特許は、複数の信号間の位相差を精度良く検出し、その誤差を測定する装置に関するものです。特に、第1及び第2の信号を参照信号として使用し、これらの信号間の位相差を小さくするための誤差測定装置が提供されます。その結果、前記第1の信号発生器から出力される信号と、前記第2の信号発生器から出力される信号との位相差を検出することが可能となります。また、位相差検出手段を用いて誤差を算出することも特長の一つとなっています。この装置は、特に評価対象機器の入出力を評価するために有用であるとされています。
つまりは、複数の信号間の位相差を精度良く検出し、その誤差を測定する装置の特許。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子機器製造業情報通信業研究開発
- 高精度な信号処理装置の開発
- 通信機器の性能評価
- 電子機器の設計・開発
本特許を活用して、高精度な信号処理装置を開発することが可能です。位相差を精度良く検出し、その誤差を測定することができるため、信号処理の精度を向上させることができます。
通信機器では、信号の位相差やその誤差が重要な性能指標となります。本特許を活用することで、これらの評価をより精度高く行うことができます。
本特許は、電子機器の設計・開発にも活用できます。特に、信号の位相差やその誤差を正確に測定できるため、より高性能な電子機器の開発に役立ちます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-047935 |
| 発明の名称 | 誤差測定装置 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2017-161440 |
| 登録番号 | 特許第0006607446号 |
- サブスク
- 譲渡
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