国立研究開発法人物質・材料研究機構
ナノレベルで解析可能な顕微分光データ測定装置！
国立研究開発法人物質・材料研究機構
ナノレベルで解析可能な顕微分光データ測定装置！
本特許は、物質の微細な領域を解析するための顕微分光データ測定装置とその方法について述べています。装置は、第1母相と第2母相の極表層に分布したナノ薄膜領域を含み、これらは異なる成分を有します。装置の特徴は、二次電子の顕微分光データがエネルギーフィルターで分光できるエネルギー以下のエネルギーであることです。また、試料上の各領域に対して、電子ビームを照射して得られる二次電子の顕微分光データを検出し、これらの信号強度に基づいて、ナノ薄膜領域の物性特性のエネルギー依存性を演算する方法が提供されます。これにより、物質の微小な領域の物性特性を精確に解析することが可能となります。
つまりは、物質の微細な領域を解析するための顕微分光データ測定装置とその方法
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業研究開発マテリアル科学
- 新素材開発のための解析手法として
- 既存素材の品質管理・品質向上
- 研究所での基礎研究
新たな素材の開発において、その物性特性を詳細に理解することは必要不可欠です。本特許の顕微分光データ測定装置とその方法は、素材のナノレベルでの物性特性を詳細に解析することを可能にします。これにより、新素材の開発における理解を深め、より効率的な開発を行うことが可能となります。
製品の品質管理や品質向上において、素材の微細な領域まで詳細に解析することは重要です。本特許の顕微分光データ測定装置は、そのような詳細な解析を可能にし、品質管理や品質向上に寄与します。
物質の微細な領域の物性特性を解析することは、物質科学や材料科学の基礎研究において極めて重要です。本特許の顕微分光データ測定装置とその方法は、これらの研究を支え、新たな発見や理論の構築に寄与します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-066285 |
| 発明の名称 | 顕微分光データ測定装置および方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 | 特開2017-181192 |
| 登録番号 | 特許第0006677943号 |
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