学校法人東京電機大学
高精度なレーザー干渉計の新時代
学校法人東京電機大学
高精度なレーザー干渉計の新時代
本特許は、複数の位置を簡易且つ高精度に測定できるレーザー干渉計に関するものである。従来の技術では、測定点に対して順次レーザー光を照射して測定するか、複数のレトロリフレクタを設置してレーザー光の光軸を細く絞り、これらからの反射光を利用して測定していた。しかし、本発明では、ボールレンズと液晶フィルターを組み合わせることで、同時に複数の位置の測定が可能となり、特にレーザー干渉計に好適なものとなっている。光源からの拡散光を入射した光軸に沿ってそれぞれ反射する複数のボールレンズと、光源と複数のボールレンズとの間に配置されて個々のボールレンズに対する拡散光の入射を遮断可能とする液晶フィルターと、個々のボールレンズに対応する液晶フィルターの各部分の光の遮断を制御する制御手段と、ボールレンズで反射された反射光を受光すると共に、光源に源を有する光の一部を参照光として受光する受光素子を含む干渉計が提案されている。
つまりは、複数の位置を簡易且つ高精度に測定可能なレーザー干渉計の開発
AIによる特許活用案
おすすめ業界 産業機械自動車宇宙開発
- 高精度な位置測定を必要とする産業機械の開発
- 自動車の高精度な位置制御
- 宇宙開発における位置情報の取得
産業機械は、精密な位置情報の取得が重要となる。本発明のレーザー干渉計を活用することで、複数の位置を簡易且つ高精度に測定することが可能となり、より精密な産業機械の開発が進められる。
最新の自動車は、自動運転や高精度な位置制御が求められる。本発明のレーザー干渉計を利用することで、車両の位置や姿勢を簡易且つ高精度に測定し、自動運転の制御精度を向上させることが可能となる。
宇宙開発においては、高精度な位置情報が不可欠である。本発明のレーザー干渉計を使用することで、複数の位置を簡易且つ高精度に測定することが可能となり、より精密な宇宙開発が可能となる。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-142034 |
| 発明の名称 | 干渉計 |
| 出願人/権利者 | 学校法人東京電機大学 |
| 公開番号 | 特開2018-013371 |
| 登録番号 | 特許第0006795154号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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