地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
高精度CTスキャンのための一体型校正器
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
高精度CTスキャンのための一体型校正器
本特許は、CT装置を用いた寸法測定の精度を向上させるための校正器に関するものです。具体的には、測定対象物を支持する支持体と、その上に設けられた寸法が既知の校正用基準体を備えます。この基準体は回転対称の円筒形で、基準体の外周面の一方の端点から内周面の他方の端点までの距離と、基準体の肉厚部の厚さをそれぞれ基準長さとして使用します。基準体の肉厚部は、支持体の外縁に沿って配置され、基準体の空洞部分に測定対象物を設置可能です。また、基準体と支持体の間には、基準体用のスペーサが設けられています。
つまりは、独自の基準体を使用してCT装置の寸法測定精度を向上させる校正器
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療機器工業製品検査自動車
- 高精度CTスキャンのための校正器開発
- CT装置校正サービスの提供
- 高精度CT装置の製造と販売
本特許の技術を利用して、医療機器や工業製品の検査に使用するCT装置の精度を向上させる校正器を開発することが可能です。この校正器は、CT装置の寸法測定精度を高め、より正確な検査結果を提供します。
本特許の技術を活用して、既存のCT装置の精度を向上させる校正サービスを提供することが可能です。特に、医療機器や工業製品の検査に使用されるCT装置の精度向上は、診断や品質管理の精度向上に直結します。
本特許の技術を利用して、高精度な寸法測定が可能なCT装置を製造し、販売することが可能です。これにより、医療や工業製品検査などの分野で、より正確な検査結果を得ることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-183254 |
| 発明の名称 | ＣＴ装置用校正器 |
| 出願人/権利者 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター |
| 公開番号 | 特開2018-063243 |
| 登録番号 | 特許第0007038399号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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