国立大学法人千葉大学
高性能ポジトロン断層測定画像の新たな構成方法
国立大学法人千葉大学
高性能ポジトロン断層測定画像の新たな構成方法
本発明は、ポジトロン断層測定装置及びその画像の構成方法に関する。従来の装置では発光位置の特定が困難で、その結果、画像がぼやけてしまう場合があった。この問題を解決するために、発光位置特定部が波長変換ファイバー層における発光の傾域が複数ある場合、あるいは、波長変換ファイバーの本数が所定の本数を超えている場合に、その発光位置に関する情報を削除または採用しない新たな方法を提案している。これにより、高分解能のポジトロン断層測定画像を得ることが可能となり、より正確な診断を可能にします。
つまりは、本発明は、ポジトロン断層測定画像の分解能を改善するための新たな方法を提供します。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療機器製造研究開発核医学
- 高精度な医療診断装置の開発
- ポジトロン断層測定装置の改良
- 医療技術の研究開発
本発明を活用して、高精度なポジトロン断層測定装置の開発が可能になります。これにより、より正確な診断を行うことが可能になり、早期発見や早期治療につながります。
既存のポジトロン断層測定装置に本発明の技術を組み込むことで、装置の性能を向上させることができます。これにより、ユーザーに対してより高品質なサービスを提供することが可能になります。
本発明の技術を利用して、新たな医療技術の研究開発を行うことが可能です。特に、画像診断技術の分野では、本発明の技術を活用して新たな方法や装置を開発することが可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-233704 |
| 発明の名称 | ポジトロン断層測定装置及びポジトロン断層測定画像の構成方法 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人千葉大学 |
| 公開番号 | 特開2018-091669 |
| 登録番号 | 特許第0006855047号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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