国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な表面検査を実現する特許技術
国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な表面検査を実現する特許技術
本特許は、表面検査装置とその方法に関するもので、高度な光学技術を用いて被検査体の表面状態を詳細に解析します。撮像部が複数の波長の光の強度に関する複数の検出画像を撮像し、偏光フィルタを用いて光の偏光を分離します。この技術は、偏光成分や輝度画像の分析を通じて、被検査体の輝度異常点や偏光成分異常点を特定し、それらの分布をスコア化することにより、表面の偏光成分ムラや輝度ムラを解析します。このような詳細な解析により、製品の品質管理や異常検出が精度高く行えます。
つまりは、表面検査装置と方法に関する特許、光の散乱と偏光分離を活用して異常点を特定します。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業半導体産業自動車産業
- 品質保証の高度化
- 生産ラインの効率化
- 新たな検査サービスの開発
製品の表面検査を行う際に、本特許技術を活用することで、より精度高く検査を行うことが可能となります。これにより、製品の品質保証を一層向上させ、顧客満足度の向上に寄与します。
本特許技術を生産ラインに導入することで、生産工程における検査の効率化が図れます。異常検出の精度向上により、不良品の早期発見と再作業の削減が可能となり、生産効率の向上につながります。
本特許技術を基にした新たな表面検査サービスを開発することが可能です。特に半導体や自動車産業など、精密な表面検査が求められる業界においては、高精度な検査サービスが高い需要を持つ可能性があります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-234464 |
| 発明の名称 | 表面検査装置、表面検査方法、表面検査プログラムおよび記録媒体 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2018-091692 |
| 登録番号 | 特許第0006775787号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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