国立大学法人金沢大学
歪みのない観測画像が得られる走査型プローブ顕微鏡
国立大学法人金沢大学
歪みのない観測画像が得られる走査型プローブ顕微鏡
本特許は、観測画像の歪みを抑制する走査型プローブ顕微鏡に関するものである。具体的には、観測試料を載置する試料ステージと、試料の表面状態または動態を観測する探針、試料ステージを駆動するスキャナ、スキャナの動作を制御する制御部を備える。制御部は、所定の周期で増加および減少を繰り返す走査電圧をスキャナに印加し、走査電圧は、増加開始直後の第1の期間における増加の加速度が正の値であり、かつ、第1の期間に続く増加の傾きが一定である。これにより、観測領域の一端側において走査方向を切り替えるときに、スキャナの応答遅れの影響により観測領域の一端側近傍において観測画像に歪みが生じるのを抑制することができる。
つまりは、走査電圧の制御により観測画像の歪みを抑制する走査型プローブ顕微鏡
AIによる特許活用案
おすすめ業界 ナノテクノロジー医療機器素材研究
- 高精度な観測技術の提供
- 製品開発の高精度化
- 教育・研究分野への応用
本特許の技術は、観測画像の歪みを抑制することが可能なため、高精度な観測が求められるナノテクノロジーや医療機器、素材研究などの分野で活用可能です。特に、試料の微細な構造や性質を正確に把握する必要がある場面での利用で、より信頼性の高いデータを提供できます。
本特許の技術を活用して、製品開発の初期段階での素材選定や、試作品の評価に使用することで、開発の精度を高めることが可能です。これにより、製品の品質向上や開発効率の向上に貢献します。
観測画像の歪みを抑制する本特許の技術は、教育・研究分野でも活用可能です。特に、微細な試料の観測を行う実験や研究で、より正確なデータ取得を可能にし、研究の進展を支援します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-234584 |
| 発明の名称 | 走査型プローブ顕微鏡 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人金沢大学 |
| 公開番号 | 特開2018-091695 |
| 登録番号 | 特許第0006842754号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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