国立大学法人金沢大学
リアルタイムで解析可能な回折環計測装置
国立大学法人金沢大学
リアルタイムで解析可能な回折環計測装置
本特許は、計測対象物にX線を照射し、その回折環を計測する装置に関するものです。特に、回折環の撮像から解析までをリアルタイムに実行することができる技術を提供します。これは、固体撮像素子を用いて回折環を撮像し、その画像を解析することにより実現されます。固体撮像素子はビームが通過する貫通孔を中央部に有し、極座標に沿って配置された複数の光電変換部を有します。このような構造により、高速で高精度の解析が可能となります。
つまりは、X線を照射して形成される回折環をリアルタイムで撮像し、解析することを可能にした装置です。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業医療研究開発
- 高精度な材料解析
- リアルタイムな医療診断
- 研究開発の高速化
本装置を用いて、材料の内部構造や物性を高精度に解析することが可能です。製造業や素材研究などの分野で活用可能です。
医療分野での診断にも活用できます。X線を用いたリアルタイム解析により、より迅速で正確な診断が可能となります。
回折環の解析をリアルタイムに行うことで、研究開発のスピードを大幅に向上させることができます。特に新素材の開発や構造解析などの分野で活用できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-054747 |
| 発明の名称 | 回折環計測装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人金沢大学 |
| 公開番号 | 特開2018-116063 |
| 登録番号 | 特許第0006472069号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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