国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な高周波特性検査装置
国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な高周波特性検査装置
本特許は、端と前記シグナル領域とを接触させ、ステージコントローラを制御し前記平面回路を載置する可動ステージを稼動して前記対向する一対の前記高周波プローブをX軸方向やY車方向に稼動させる高周波特性検査装置に関する。特に、高周波を放出して得たSパラメータの反射係数から、プローブのX軸やY軸の位置を決定する工程が特徴的である。さらに、決定された位置においてプローブの各先端とシグナル領域とを接触させ、ステージコントローラを制御し平面回路を載置する可動ステージを稼動してプローブの位置を調整する。これにより、平面回路の電気的特性を高精度に検査することが可能となる。
つまりは、一対の高周波プローブを用いて平面回路の特性を精密に検査する装置。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子工学電子機器製造業電気通信業
- 高精度な回路設計の補助ツールとして
- 電子機器の保守・修理用ツールとして
- 電気通信業界での信号品質改善への応用
本特許の技術を活用することで、回路設計者は設計した回路の電気的特性を高精度に検査することが可能となる。これにより、設計の精度を向上させ、製品の品質を高めることができる。
本特許の技術を活用することで、電子機器の保守・修理作業時に、故障箇所の特定や修理後の動作確認を行う際に、高精度な検査を行うことが可能となる。これにより、保守・修理作業の効率化と精度向上が期待できる。
高周波特性の精密な検査が可能な本特許の技術は、電気通信業界での通信品質向上に貢献する。具体的には、通信回線のノイズ除去や信号強度調整などに活用することで、より安定した通信環境を提供することが可能となる。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-015659 |
| 発明の名称 | 電気的中点におけるＲＦプローブシステムの校正技術 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2018-125389 |
| 登録番号 | 特許第0006765104号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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