国立大学法人山梨大学
精度向上の新次元！誤差補正方法を活用した位相子と偏光子の制御技術
国立大学法人山梨大学
精度向上の新次元！誤差補正方法を活用した位相子と偏光子の制御技術
本特許は、位相子と偏光子の主軸方位や透過軸方位の製造誤差や初期誤差を補正する新たな手法を提供します。具体的には、特定の数式を活用してこれらの誤差を算出し、補正する工程を含みます。さらに、位相子の主軸方位が0やπ/4の時、偏光子をその透過軸方位が0, π/2, π/4, -π/4にそれぞれ回転させ、それぞれの回転角度での8つの二次元画像を受光することにより、誤差を補正します。この技術により、位相子と偏光子の制御精度が向上し、さらに高度な光学装置の設計と製造が可能となります。
つまりは、位相子と偏光子の主軸方位や透過軸方位の製造誤差や初期誤差を補正する革新的な技術
AIによる特許活用案
おすすめ業界 光学産業高精度機器製造研究開発
- 高精度光学装置の製造
- 照明システムの制御精度の向上
- 光学研究の進展
この技術は、位相子と偏光子の製造誤差や初期誤差を補正することで、高精度な光学装置の製造に活用できます。製造工程での誤差を補正することで、より正確な光学装置の設計と製造が可能となり、製品の品質向上に寄与します。
位相子と偏光子の制御精度を向上させるこの技術は、照明システムの制御にも活用することが可能です。照明の品質や効率を向上させるためには、光の制御が重要です。この技術を用いることで、照明システムの制御精度が向上し、最適な照明効果を実現することができます。
この技術を活用することで、光学研究における新たな可能性を開拓することができます。特に、位相子と偏光子の微細な制御が必要な研究分野では、本技術の活用により、より高度な実験や研究が可能となります。これにより、光学分野のさらなる進展と発展が期待できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-027524 |
| 発明の名称 | 誤差補正方法及び二次元偏光解析法、並びに誤差補正装置及び二次元偏光解析装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人山梨大学 |
| 公開番号 | 特開2018-132467 |
| 登録番号 | 特許第0006805469号 |
- サブスク
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