国立大学法人鳥取大学
製造不良の探索をAIがサポート！
国立大学法人鳥取大学
製造不良の探索をAIがサポート！
この特許技術は、製造不良の原因を探索するためのAI支援手法を提供します。具体的には、解析対象の不良と同一又は類似する関連不良を示す製造理論情報を特定し、それに基づいて理論データを導出します。その後、取得した実測データと導出した理論データを用いて確率推論モデルを構築し、確率推論を実行します。この方法により、製造現場の不良品原因の探索が効率化され、品質の向上が期待できます。
つまりは、AIを活用した製造不良原因の探索支援方法の特許技術です。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業自動車産業電子部品製造業
- 生産ラインの最適化
- 品質管理の向上
- 製造業のデジタルトランスフォーメーション
この特許技術は、製造現場の生産ラインにおける不良品の原因探索を効率化するために活用できます。AIを用いた確率推論により、迅速かつ正確に不良原因を探索し、生産プロセスの最適化に繋げることが可能です。
この特許技術は、製品の品質管理を向上させるために適用可能です。従来の手法では対処しきれない複雑な不良品の原因探索をAIが支援し、より高度な品質管理を実現します。
この特許技術は、製造業のデジタルトランスフォーメーション（DX）を推進する一環として活用できます。AIを活用した製造不良の探索支援は、製造業の生産性向上や品質管理の効率化に寄与し、全体の生産体制のデジタル化を実現します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-061991 |
| 発明の名称 | 製造不良原因の探索支援方法及び情報処理装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人鳥取大学 |
| 公開番号 | 特開2018-163622 |
| 登録番号 | 特許第0006877735号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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