学校法人明治大学
光ファイバ内の光信号状態を精密に測定する革新的な装置
学校法人明治大学
光ファイバ内の光信号状態を精密に測定する革新的な装置
この装置は、光源から発生させたコヒーレント光を第1と第2のコヒーレント光に分岐し、それぞれに光変調を施して試験光と参照光を生成する。試験光は測定対象に入射され、得られた後方散乱光及び反射光の少なくとも一方と、参照光とのビート信号が検出される。試験光と参照光の周波数の変動は周期的であり、その変動パターンの始点の出現時刻の差は予め定められた条件を満足する。これにより、測定対象の内部の任意の位置までの光信号の状態を精密に測定することが可能となる。
つまりは、本発明は、光ファイバの内部の任意の位置までの光信号の状態を測定する装置と方法に関する。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 通信業界研究開発工業製品製造
- 光ファイバネットワークの診断ツール
- 光ファイバセンサーの精度向上
- 光通信システムの性能評価
この発明は、光ファイバネットワークの問題箇所を特定するための強力な診断ツールとして活用できます。光信号の状態を精密に測定することで、信号損失や故障の原因となる問題箇所を迅速に特定し、効率的なメンテナンスや修復を実現できます。
この技術は、光ファイバセンサーの精度を向上させるための手段としても活用することができます。光ファイバセンサーの精度を向上させることで、より正確なデータを得られ、その結果、センサーの利用領域が拡大する可能性があります。
光通信システムの性能を評価するための新たな方法として、本発明を活用することができます。光信号の状態を精密に測定することで、システムの性能を評価し、最適化するための有用な情報を提供できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-135745 |
| 発明の名称 | 測定装置及び測定方法 |
| 出願人/権利者 | 学校法人明治大学 |
| 公開番号 | 特開2019-020146 |
| 登録番号 | 特許第0006887901号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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