国立大学法人金沢大学
高精度で効率的な回折環計測装置
国立大学法人金沢大学
高精度で効率的な回折環計測装置
本発明は、結晶格子から得られる情報を利用して物性を評価するための高精度な回折環計測装置に関するものです。照射部と、部分的または全部を撮像する固体撮像素子を備え、これらの素子をビームに対して回転、直交、平行などの制御が可能にする支持部を具備しています。その結果、回折環全周を撮像し、その情報から物性を詳細に解析することが可能です。また、小さなサイズの固体撮像素子を1つまたは2つ以上用いて行うことで、装置の小型化やコストダウンを達成しています。
つまりは、固体撮像素子を駆使し、ビームに対して回転、直交、平行などの制御が可能な回折環計測装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 材料科学半導体産業研究開発
- 材料開発における物性評価
- 装置の小型化とコストダウン
- 研究開発の効率化
本発明の回折環計測装置は、新しい材料の開発において物性を高精度に評価するためのツールとして活用することができます。特に、結晶格子の情報から応力や転位密度などの物性を解析することが可能であり、材料開発の効率化と精度向上に寄与します。
小さなサイズの固体撮像素子を1つまたは2つ以上用いることで、装置の小型化やコストダウンが可能です。これにより、研究開発の初期段階や、コストを抑えたい小規模な研究機関でも手軽に物性評価ができるようになります。
本発明の装置は、回転、直交、平行などの制御が可能であり、様々なデータ解析手法を用いて解析できます。これにより、研究開発のプロセスを効率化し、より迅速な知見の蓄積や発見を可能にします。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-159396 |
| 発明の名称 | 回折環計測装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人金沢大学 |
| 公開番号 | 特開2019-039681 |
| 登録番号 | 特許第0007050273号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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