国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な誘電体材料評価装置
国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な誘電体材料評価装置
本発明は、誘電体材料の誘電特性を計測する装置に関するもので、特にスマートフォンなどの移動体通信機器の小型化・高性能化に伴う誘電体材料の高精度な計測が可能です。支持基板上に形成された少なくとも2本の導線路があり、互いに交差する配置となっています。これにより、比誘電率を簡便に計測・評価することが可能となります。一方の導線路に接続される入力側ポートと出力側ポートからの高周波信号を解析することで、信号の大きさを時間領域で解析し、計測対象の誘電体材料に対する計測結果の評価値を算出します。これにより、計測対象物の比誘電率が高い場合でも、その実効比誘電率を高精度に計測することが可能になります。
つまりは、高精度で迅速な誘電体材料の評価が可能な装置を提供します。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電気通信業界半導体製造業界精密機器製造業界
- 高精度な半導体材料の評価
- 高周波通信機器の性能評価
- 高精度な材料評価のための研究開発
半導体セラミックスなどの誘電体材料の誘電特性を高精度に計測することができます。これにより、材料の品質管理や新たな材料の開発に役立てることができます。
スマートフォンなどの移動体通信機器の小型化・高性能化に伴い、使用される誘電体材料の性能評価が重要となります。本発明の装置を利用することで、高周波通信機器の性能評価を迅速かつ高精度に行うことができます。
本発明の装置は、高精度な材料評価を可能にするため、各種材料の性能評価や新素材の開発研究に活用することができます。特に高性能な電子機器の開発において、材料の評価は重要な要素となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-195997 |
| 発明の名称 | 誘電体材料評価装置 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2019-070549 |
| 登録番号 | 特許第0007011806号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
準備中です