島根県、国立研究開発法人産業技術総合研究所
非接触で高精度に被測定物を調査する、静電容量型センサーを搭載した測定システム
島根県、国立研究開発法人産業技術総合研究所
非接触で高精度に被測定物を調査する、静電容量型センサーを搭載した測定システム
この静電容量型センサーを利用する非接触測定システムは、被測定物の静電容量値の変化を非接触で測定することにより、被測定物に付着する問題を回避することが可能です。システムは、静電容量型センサー、測定部、記憶部、および制御部を備えています。静電容量型センサーは、基材と、基材の第1の表面に形成された第1の電極と、基材の第1の表面とは反対側の第2の表面に形成された第2の電極を含みます。センサー部は被測定物用容器の底面に対向するように配置され、記憶部は、被測定物とは導電率が異なる異物が混入していない状態で、測定部によって測定される静電容量値の範囲を示す検出半値範囲を予め記憶します。制御部は、被測定物について測定された静電容量値が検出半値範囲内にないと判定した場合に、被測定物に異物が混入していると判定します。
つまりは、本特許は、静電容量型センサーを用いて、被測定物の導電率の変化を非接触で測定するシステムに関する。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 工業製造食品加工業医療機器製造
- 高精度な品質管理システムの実装
- 医療機器の精度向上
- 研究開発のフィールドでの利用
本システムを工業製造ラインや食品加工ラインに導入することで、製品の静電容量値を非接触で精密に測定し、品質管理を一層高度化させることが可能です。異物混入のリスクを大幅に軽減でき、安全性と信頼性を向上させます。
医療機器製造において、本システムを用いて部品や素材の導電率を非接触で高精度に測定することで、製品の品質向上と生産効率の向上に寄与します。微細な異物混入も検出可能なため、患者の安全に直結します。
新材料や新製品の開発研究において、本システムを利用することで、被測定物の静電容量値の変化を非接触で高精度に測定できます。これにより、研究開発の効率化とデータの信頼性向上に寄与します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-250214 |
| 発明の名称 | 非接触測定システム |
| 出願人/権利者 | 島根県、国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2019-117070 |
| 登録番号 | 特許第0007048043号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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