国立大学法人 新潟大学
革新的な歪み検出装置: 試料の内部まで見抜く
国立大学法人 新潟大学
革新的な歪み検出装置: 試料の内部まで見抜く
この特許は、静磁場を試料の周囲に生成し、電波を送信して信号を受信することで試料の歪みを検出する装置、方法、及びプログラムに関するものです。この装置は、周波数解析を行い、複数のピークが検出された場合に試料に歪みがあると判別します。一方、単数のピークが検出された場合には試料に歪みがないと判別します。さらに、メインピークの積分強度とサテライトピークの積分強度に基づき、試料の全域に占める歪みが存在しない割合または歪みが存在する割合を検出することも可能です。これにより、試料の広範囲の歪みを高精度に検出することが可能となります。
つまりは、静磁場を利用して試料の歪みを検出する装置、方法、及びプログラム
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療製造業建築
- 高精度な材料検査の実現
- 建築物の安全性評価
- 医療分野への応用
この装置は、製造業における材料の品質検査に活用することが可能です。試料の微細な歪みを検出することで、材料の品質管理をより高精度に行うことができます。
建築物の構造材の歪みを検出し、その安全性を評価するのにこの装置を活用できます。これにより、建築物の老朽化やダメージを早期に発見し、対応することが可能となります。
人体組織の歪みを検出することで、病気や怪我の診断に役立てることができます。これにより、より早期の診断と治療につながる可能性があります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-053128 |
| 発明の名称 | 歪み検出装置、歪み検出方法及び歪み検出プログラム |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人 新潟大学 |
| 公開番号 | 特開2019-164091 |
| 登録番号 | 特許第0007025010号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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