学校法人早稲田大学
深層学習で挿入機能を検出！スマートな電子デバイス監視システム
東京都新宿区戸塚町一丁目104番地
登録情報の修正申請学校法人早稲田大学
深層学習で挿入機能を検出！スマートな電子デバイス監視システム
東京都新宿区戸塚町一丁目104番地
登録情報の修正申請この特許技術は、プログラムを書き換え可能で通常モードとスリープモードの2つの動作モードを持つ電子デバイスに対し、その動作中の電流と電圧を計測し、クラスタリングにより分類することで異常な挿入機能を検出します。この技術では、特定のトリガー条件を満たしたときのみアクティブになる機能の発現を検出することが可能です。また、クラスタリングのアルゴリズムとしてK平均法やウォード法を用いたり、サイドチャネル情報のデータを平滑化することも可能です。特徴量として抽出されたデータから外れ値を求めることで、挿入された機能の発現を効率的に検出することができます。
つまりは、電子デバイスの動作モードと電流を分析し、異常な挿入機能を識別する革新的な技術。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子機器製造業セキュリティ業界IT業界
- セキュリティ強化の一環としての活用
- 電子デバイスの品質管理に活用
- 電子デバイスのパフォーマンスモニタリングに活用
この技術は、不正なプログラムの挿入やマルウェアの混入を検出するセキュリティシステムとして活用できます。電子デバイスの動作モードと電流を分析することで、異常な挿入機能を即座に検出し、早期に対策を講じることが可能です。
電子デバイスの製造工程における品質管理としても活用できます。製造工程やテスト段階で予期しない挿入機能が発現した場合、その原因を特定し、製品の品質を向上させることが可能です。
電流や電圧の変動からデバイスのパフォーマンスを定期的にモニタリングし、最適な動作状態を維持するための管理ツールとして活用できます。これにより、デバイスの寿命を延ばすとともに、必要なメンテナンスやアップデートのタイミングを見極めることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 | ASK 実証実験 | ASK サンプル・プロトタイプ | ASK
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-113649 |
| 発明の名称 | 検出方法及び検出装置 |
| 出願人/権利者 | 学校法人早稲田大学 |
| 住所 | 東京都新宿区戸塚町一丁目104番地 |
| 公開番号 | 特開2019-215794 |
| 登録番号 | 特許第0007136439号 |
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