国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
高精度な元素分析、手に入れましたか?

国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
高精度な元素分析、手に入れましたか?
本特許は、電子線マイクロアナライザを用いた元素分析方法に関するもので、特に近接する波長の元素の特性X線が干渉する場合でも、高精度な組成を算出することが可能です。具体的には、試料における測定点が複数設定され、測定点の各々における補正後強度をマッピングして表示します。特に、測定対象元素がホウ素で、干渉元素が金属元素である場合に有用で、その金属元素がジルコニウムである場合に特に効果的です。これにより、例えば、原子炉の廃炉処理や各種のセラミックス材料などで混在する元素の組成を正確に分析することが可能となります。
つまりは、電子線マイクロアナライザを用いた元素分析方法で、高精度な組成算出が可能に。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 原子力産業材料科学半導体産業
- 高精度な元素分析による原子炉の廃炉処理の効率向上
- セラミックス材料の品質向上
- 半導体産業への応用
本特許の元素分析方法を用いれば、原子炉の廃炉処理において、燃料デブリの組成を高精度に分析することが可能となります。これにより、廃炉処理の効率を向上させることが期待できます。
本特許の元素分析方法を用いれば、セラミックス材料の製造過程での元素組成の高精度な分析が可能となります。これにより、製品の品質向上や新素材の開発に寄与することが期待できます。
本特許の元素分析方法は、半導体材料における微細な元素の組成分析にも応用可能です。これにより、半導体の性能向上や新たな半導体材料の開発に寄与することが期待できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2018-200792 |
発明の名称 | 元素分析方法 |
出願人/権利者 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 |
公開番号 | 特開2020-067392 |
登録番号 | 特許第0007153324号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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